泛華研發(fā)的元器件老化篩選測(cè)試系統(tǒng),覆蓋多種老化試驗(yàn),包括加速試驗(yàn),各種環(huán)境試驗(yàn)等,適用于生產(chǎn)線電路板、電子元器件、電源模塊、芯片等的老化篩選。
系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了動(dòng)態(tài)老化與實(shí)時(shí)測(cè)試,可以任意設(shè)置老化溫度點(diǎn)、老化時(shí)間與循環(huán)測(cè)試時(shí)間間隔,并在各個(gè)溫度點(diǎn)下實(shí)時(shí)進(jìn)行被測(cè)件的性能測(cè)試。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、在線環(huán)境仿真與實(shí)時(shí)性能檢測(cè)
2、集成自主研發(fā)大規(guī)模信號(hào)路由矩陣
3、接口可基于被測(cè)件任意定制
4、自動(dòng)化測(cè)試,實(shí)時(shí)界面顯示
5、軟件功能靈活全面,測(cè)試內(nèi)容涵蓋廣
6、測(cè)試曲線生成與自動(dòng)保存
相關(guān)應(yīng)用:
· 流量傳感器綜合測(cè)試系統(tǒng)
· 角位移傳感器測(cè)試系統(tǒng)
· 雷達(dá)軍品模塊老化測(cè)試系統(tǒng)